高低溫老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試
簡(jiǎn)要描述:高低溫老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試隨著科技的不斷發(fā)展,半導(dǎo)體材料在電子、通訊、能源、醫(yī)療等領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛,其穩(wěn)定性問題也備受關(guān)注。因此,對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試是至關(guān)重要的。其中,高低溫老化試驗(yàn)箱是測(cè)試半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性的重要設(shè)備之一。本文將對(duì)SME-80PF高低溫老化試驗(yàn)箱在半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試中的應(yīng)用進(jìn)行詳細(xì)介紹。
產(chǎn)品型號(hào): SME-80PF
所屬分類:80L高低溫試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-06-27
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
高低溫老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試
高低溫老化試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介
高低溫老化試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介
高低溫老化試驗(yàn)箱是一種模擬溫度環(huán)境變化的試驗(yàn)設(shè)備,主要用于測(cè)試材料在高溫、低溫、濕度等環(huán)境條件下的性能表現(xiàn)。它具有溫度范圍寬、控溫精度高、可編程控制等特點(diǎn),能夠模擬各種實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景下的溫度變化,為材料性能測(cè)試提供可靠的實(shí)驗(yàn)條件。
性能參數(shù):
型號(hào):SME-80PF
溫度范圍:-70~150℃
內(nèi)箱尺寸:W400*H500*D400mm
外箱尺寸:W660*H1480*D930mm
皓天設(shè)備恒溫恒濕試驗(yàn)箱系列溫度范圍分別為:
1、A:0~150℃、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D:-60~150℃、E:-70~150℃
2、濕度范圍:20~98%RH(溫度在25℃~80℃時(shí))
測(cè)試范圍
升降溫速率:1.0~1.5℃/min
機(jī)器精度
控制精度
:溫度:±1.0℃
濕度:±1.5%R.H。
均勻度: 溫度:≤±2℃
濕度:±2%R.H
不銹鋼內(nèi)膽,噴塑鋼板外殼,聚胺脂泡沫保溫
設(shè)有大視角觀察窗、照明燈
外置智能霧化器加濕,可大容量補(bǔ)充加濕
*的不銹鋼循環(huán)風(fēng)道,強(qiáng)迫空氣循環(huán),溫度均勻
具有超溫保護(hù)系統(tǒng)
本產(chǎn)品可根據(jù)顧客要求進(jìn)行訂做,售后服務(wù):保修二年,終身保固!
高低溫老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試
SME-80PF高低溫老化試驗(yàn)箱的特點(diǎn)
1. 溫度范圍寬:SME-80PF高低溫老化試驗(yàn)箱的溫度范圍為-70℃~200℃,能夠滿足各種溫度環(huán)境下的測(cè)試需求。
2. 控溫精度高:該設(shè)備的溫度控制精度為±0.5℃,能夠保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
3. 可編程控制:用戶可根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求,對(duì)溫度、濕度等參數(shù)進(jìn)行編程控制,實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜的溫度變化曲線。
4. 大容量樣品架:該設(shè)備配備了多個(gè)樣品架,可同時(shí)測(cè)試多個(gè)樣品,提高實(shí)驗(yàn)效率。
5. 自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng):設(shè)備具備自動(dòng)檢測(cè)功能,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)樣品的狀態(tài),確保實(shí)驗(yàn)過程的順利進(jìn)行。
6. 安全保護(hù)措施:為了保障實(shí)驗(yàn)人員的安全和設(shè)備的正常運(yùn)行,該設(shè)備配備了多項(xiàng)安全保護(hù)措施,如過溫保護(hù)、漏電保護(hù)等。
系半導(dǎo)體材料穩(wěn)定性測(cè)試的重要性
半導(dǎo)體材料在高溫、低溫、濕度等環(huán)境條件下容易發(fā)生性能退化,如電學(xué)性能下降、機(jī)械性能變差等,這將對(duì)半導(dǎo)體器件的可靠性產(chǎn)生嚴(yán)重影響。因此,對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行穩(wěn)定性測(cè)試是十分必要的。通過測(cè)試,可以了解材料在不同環(huán)境條件下的性能表現(xiàn),預(yù)測(cè)其使用壽命,為半導(dǎo)體器件的可靠性設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供依據(jù)。